返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
技術(shù)文章
當前位置：首頁 > 技術(shù)文章
泰勒白光干涉儀CCIMP信息
點擊次數(shù)：358 更新時間：2025-08-12
泰勒白光干涉測量系統(tǒng)集高精度、高穩(wěn)定性和智能化于一體，專為工業(yè)與科研領(lǐng)域的精密表面形貌測量而設(shè)計。系統(tǒng)采用先進的干涉技術(shù)，配備閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀，提供2.2 mm垂直測量范圍，并通過標配的AutoStitch功能實現(xiàn)高達100 mm的Z向拼接，適用于大臺階或復雜結(jié)構(gòu)的高分辨率三維重建。1024×1024像素陣列支持大視場下保持空間分辨率，確保細節(jié)清晰呈現(xiàn)。
系統(tǒng)搭載新型Claritas 20光調(diào)節(jié)技術(shù)，顯著提升角度靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量，實現(xiàn)<0.2 ?的RMS可重復性與<0.1%的步高重復性，全量程內(nèi)分辨率達0.1 ?。有限元優(yōu)化的機械結(jié)構(gòu)保障了出色的R&R性能，無壓電設(shè)計更降低了長期使用中的維護成本。自動表面檢測功能有效防止物鏡碰撞，延長設(shè)備壽命。
